Metrology
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MarOpto FI 1100 Z 斐索干涉仪
ZH
具有卓越的灵活性和多样性的高精度测量能力
MarOpto FI 1100 Z 为平面和球面,以及光学器件和部件的透射波前提供了非接触式的测量方式。测量方式包括:静态条纹追踪、静态空间载波相位,或者相位调节法。MarOpto FI 1100 Z 也可以安装享誉全球的IntelliWave软件,为终端用户提供优越的测量与分析能力。MarOpto FI 1100 Z 以优越的性价比提供了多样性和可靠性的测量功能,以解决当今高级别应用中的各种问题。

  • 所有的USB连接选项(笔记本或者台式电脑)都具有1k x 1k的空间分辨率
  • 卓越的多样性、稳定性以及重复性
  • 1到6倍的放大倍率、具有调焦和衰减控制
  • 可以利用马尔的IntelliPhase静态空间载频数据获取和分析软件,实现防振功能
  • 紧凑、轻量和结实的设计
  • 兼容所有工业标准的4英寸(100 mm)参考镜、光学器件以及附件
  • 在可承受的价格基础上实现高精度的测量(高性价比
  • 对于平面,和具有不同曲率半径的测量,有可选择的工作平台
  • 应用

  • 可以实现对平面、凹面和凸面的测量
  • 棱镜,角隅棱镜、楔角以及均匀性的测量
  • 机器加工的表面、陶瓷、以及基片表面的测量
  • 光学系统以及光学器件的波前分析
  • 整合成OEM系统