测量光学元件的轮廓

测量距离达 280 毫米，可测量的箭头高度达 30 毫米，现在您有了更多的选择，可以测量更大的球体、非球面或 DOE，而且速度和精度都已得到验证。更换磁性连接的测头臂易如反掌。优化的接口将芯片编码的探针臂可重复地集成到测量电路中，从而减少了校准工作。由于扫描力可以通过电子方式调节，因此即使是对最敏感的材料也能进行可靠的测试。

功能强大，使用方便

MarOpto LD 280 非球面仪可以灵活地拾取松散的非球面，并使用定心和倾斜台以用户友好的方式对准它们。可选的电动 Y 轴可自动搜索天顶，手动旋转台则为轮廓仪增添了新的功能：只需一次设置即可测量多个线性切口，为检测非旋转对称误差奠定了基础。配合第四代 Aspheric.Lib 软件，您可以确定光学器件的散光等。

符合 ISO 10110 标准的评估以及几何参数拟合都是标准配置。MarOpto LD 280 Aspheric 甚至可以按照标准测量和分析双面光学元件的内部中心。

最重要的优势一览

• 设计紧凑，所需空间更小
• 直接在生产过程中进行质量控制的闭环功能
• 自动检测的芯片编码磁性测头臂，可减少误差和校准工作量
• 第四代 Aspheric.Lib 软件具有许多新功能，可根据 ISO 10110 标准分析测量数据

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