选择适当的轴类测量设备

越来越小的测量特征和越来越严格的公差的趋势仍在继续。与此同时，对易于编程、提供高效和高度精确的测量并能测量各种不同尺寸范围零件轴的需求不断增加。有了它们，用户可以直接在车间测量旋转对称的工件，确保在持续生产的同时实现最佳质量控制。如今，用户可以选择三种技术来测量轴：光学、接触式或两者的结合。

轴类零件和其他旋转对称部件在几乎所有的机械系统中都是无处不在的。事实上，在全世界范围内进行的所有机械加工中，大部分都与生产轴或与之相连的部件有关。轴类零件包括各种具有关键功能的其他元素，如键、锥、槽、螺纹、凸轮和齿轮。这些东西又必须符合精确的尺寸，以便在机械系统中可靠地运作。

不同的特点--对准确性的要求相同

以往，用户使用特殊的手持测量设备，如卡尺、千分尺、卡规或标记板来测量一个典型的轴。然而，许多轴的直径、长度、角度、槽宽、圆角直径或倒角都可以用现代系统直至高端坐标测量机（CMM）来更精确地测量。不断增长的精度要求和不断减少的测量时间带来了对生产中直接进行高精度测量的额外需求。同时，轴类零件经常用于对安全和性能要求很高的应用，因此确保精度、质量和可靠性是首要任务。

具有不同优势的三种技术

今天，用户可以选择三种技术来测量电波。

• 光学
• 接触式
• 光学和接触式的结合。

光学测量系统因其灵活性和快速测量而被广泛使用。然而，光学系统只能测量光线可以照射到的位置。在这方面，可能有必要进行额外的接触式测量。有几个选项可供选择，它们在测量能力和复杂性方面彼此不同。最近，组合系统因此变得越来越受欢迎：它们将光学系统的速度与接触式探针结合起来，可以测量光线无法检测的位置。通过巧妙地将正确的光学系统与正确的接触式探针相结合，用户可以实现最大的精度和灵活性。

光轴测量

市场上提供了一系列复杂的、全自动的光轴测量系统，可以有效和精确地检测旋转对称的工件。这些系统能够在几秒钟内对许多特征进行高精度的测量，无论是在实验室还是在恶劣的生产环境中--操作者对测量结果没有任何的影响。 光轴测量系统以两种不同的方法工作：使用线扫描相机或使用矩阵相机。

线扫描相机使用所谓的线扫描技术来生成工件尺寸的图像，每个图像都包含一条像素线。当物体在摄像机前移动过去时，图像被逐行重构。线形传感器有时相对于工件轴线略微倾斜，以更好地测量尺寸，如边缘和肩部。工件和特征的直径被表示为一系列相互连接的点或像素。最后的测量是利用计算出的工件图像进行的。然而，由于每条线之间的分辨率较低，非常小的特征更难测量。

高分辨率的矩阵相机提供了一个现代和准确的替代方案。以前，由于涉及的数据量较大，所谓的矩阵阵列测量被认为是一种比线测量稍慢的替代方法。然而，技术的进步，包括更短的处理时间和用于测量优化的特殊程序，已经缩小了这一差距。

今天，与线扫描相机相比，矩阵相机的优势在于

• 更高的分辨率，从而使测量更加精确和稳定
• 测量明显较小的特征
• 由于有变焦功能，即使是最小的细节也能得到评估。

接触式轴计量学

尽管有许多优点，然而，光学计量学只能捕捉到从工件外部可见的轮廓信息：测量过程通常需要对工件进行背光，以获得测量的轮廓图像。然而，这个并没有描绘出许多元素，特别是非常详细的元素。例如，轴上可能有键槽或孔，作为其他特征位置的参考。一个键槽在轮廓上是不可见的，但对轴的功能至关重要，所以必须进行测量。因此，根据各自的特点，最好使用接触式探针进行测量，接触式探针有不同的复杂性，如电感式探针和二维探针。

感应式探头比例如触发式或扫描式三维探头更强大。感应式探头并不是简单地测量单个点。相反，测量系统的移动轴与他们一起在要检查的表面上行走，感应探头不断地获取数据点。因为电感式探头只在一个方向上敏感，所以测量系统有额外的运动轴来对准探头，以便它可以在正交方向（与表面垂直）测量轴上的任何表面。

另一类接触式探针是二维系统。这些也是在表面上移动的，以连续测量点。主要的区别是，这些仪器可以同时测量一个二维平面的所有方向，这使它们有资格测量复杂得多的表面。例如，齿轮通常是齿轮轴的组成部分，例如。使用二维探针系统可以准确测量齿轮轮廓的复杂几何形状。

光学和接触式的结合

对于更复杂的特征，光学和接触式测量的结合可能是首选的方法。例如，对渐开线轮廓的正确测量，需要用轴系的两个移动轴同时进行扫描，并且需要一个二维接触式探测系统，能够随时测量正交的偏差，即与表面成直角。这种解决方案具有决定性的优势：它能够快速完整地测量一个具有许多不同特征的轴，例如

• 光学：直径、长度、半径、倒角
• 接触式：一个典型的正齿轮齿形

根据齿轮上被检查的齿数的多少，测量时间只需5至10分钟，

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